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隆安
2026-01-07 09:55:59
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
LCD老化測試柜是評估顯示器件高溫環(huán)境可靠性的核心設(shè)備，選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度均勻性（±2℃內(nèi)）、控制精度（±1℃）、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖功能。采購時(shí)應(yīng)依據(jù)IEC 60749-20標(biāo)準(zhǔn)，通過FAT/SAT驗(yàn)證設(shè)備性能，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2-2008的廠商。實(shí)操中需定期校準(zhǔn)傳感器、檢查加熱元件，避免因參數(shù)漂移導(dǎo)致測試失效。
| 核心問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | 常溫~150℃（部分機(jī)型達(dá)200℃） |
| 控制精度要求 | ±1℃（IEC 60749-20標(biāo)準(zhǔn)） |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 負(fù)載數(shù)量、試樣尺寸、安全聯(lián)鎖 |
| 推薦維護(hù)周期 | 每3個(gè)月校準(zhǔn)傳感器，每年更換加熱管 |
| 行業(yè)均價(jià)區(qū)間 | 8萬~35萬元（依容積與精度） |
LCD老化測試柜通過模擬高溫環(huán)境（通常60℃~150℃），加速顯示器件（如TFT-LCD、OLED）的電性能退化，暴露潛在缺陷。其技術(shù)核心在于：
典型工況：某面板廠測試55英寸4K LCD，在120℃下連續(xù)運(yùn)行1000小時(shí)，監(jiān)測亮度衰減率、色偏值及驅(qū)動(dòng)IC失效數(shù)。
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)最大溫差 | ±1.5℃ | IEC 60068-2-78 |
| 溫度波動(dòng)度 | 穩(wěn)定狀態(tài)下溫度變化 | ±0.5℃ | GB/T 2423.2 |
| 負(fù)載密度 | 單位體積試樣功率 | ≤50W/dm3 | 廠商技術(shù)規(guī)范 |
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項(xiàng) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-150 | RT~150℃ | 20%~95%RH | 0.5m3/1m3 | ±0.8℃ | IEC 60749-20 | 獨(dú)立風(fēng)道設(shè)計(jì) |
| 環(huán)儀HY-200 | RT~200℃ | 10%~98%RH | 0.8m3/1.5m3 | ±1.2℃ | GB/T 2423.2 | 觸摸屏+USB存儲(chǔ) |
| 艾德克斯ITS-120 | RT~120℃ | 非可控 | 0.3m3/0.6m3 | ±0.5℃ | MIL-STD-810G | 手機(jī)APP監(jiān)控 |
| 項(xiàng)目 | 周期 | 操作 |
|---|---|---|
| 傳感器校準(zhǔn) | 3個(gè)月 | 使用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻對比測試 |
| 加熱管檢查 | 1年 | 測量電阻值（偏差＞10%更換） |
| 安全聯(lián)鎖測試 | 6個(gè)月 | 模擬超溫/斷電場景驗(yàn)證功能 |
A：可以，但需調(diào)整測試條件。OLED對氧氣敏感，需選擇帶氮?dú)獬渥⒐δ艿臋C(jī)型（如隆安LA-150N），并控制氧濃度≤50ppm。
A：使用9點(diǎn)布點(diǎn)法（工作區(qū)中心及四角），在80℃穩(wěn)定后測量，最大溫差應(yīng)≤±2℃（依據(jù)IEC 60068-2-78）。
A：主要取決于控制精度（±0.5℃機(jī)型比±1℃貴30%）、材質(zhì)（304不銹鋼內(nèi)膽成本高20%）及附加功能（如遠(yuǎn)程監(jiān)控）。
A：立即記錄停電時(shí)間，恢復(fù)供電后按標(biāo)準(zhǔn)重啟程序（如降溫至50℃以下再升溫），避免熱應(yīng)力損傷。
A：要求提供控制器型號(hào)（如歐陸590P）、報(bào)關(guān)單及原廠授權(quán)書，并通過PID調(diào)試驗(yàn)證響應(yīng)速度（應(yīng)≤0.5秒）。
引用機(jī)構(gòu)：中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》（JJF 1101-2019）、國際電工委員會(huì)（IEC 60749-20半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法）。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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