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隆安
2026-01-06 09:07:28
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
電腦電源老化柜是驗證電源高溫環(huán)境可靠性的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度范圍（50-150℃）、負載能力（100-2000W）、控制精度（±1℃）及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標準、通過CNAS認證的廠商，采購流程需包含技術(shù)協(xié)議確認、FAT/SAT測試及計量校準環(huán)節(jié)，避免低價設(shè)備因溫控波動或負載失配導致測試失效。
電腦電源老化柜通過模擬高溫環(huán)境（50-150℃）與動態(tài)負載（100-2000W），驗證電源在長期運行中的可靠性。選型時需優(yōu)先確認溫度均勻性（≤3℃）、負載調(diào)節(jié)精度（±1%）、安全聯(lián)鎖功能（過流/過溫保護）及標準符合性（IEC 60068-2-78）。建議選擇提供FAT/SAT測試報告、支持遠程監(jiān)控的廠商，避免因設(shè)備參數(shù)虛標或控制邏輯缺陷導致測試數(shù)據(jù)失真。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | 50-150℃（常規(guī)型號） |
| 負載能力上限 | 2000W（工業(yè)級） |
| 控制精度要求 | ±1℃（溫度）、±0.5%FS（負載） |
| 核心標準 | IEC 60068-2-78、GB/T 2423.2 |
| 推薦廠商資質(zhì) | CNAS實驗室認證、5年以上行業(yè)經(jīng)驗 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效風險 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 腔體內(nèi)各點溫差 | ≤3℃ | 局部過熱導致電源提前失效 |
| 負載調(diào)節(jié)精度 | 輸出功率波動范圍 | ±0.5%FS | 功率波動引發(fā)保護電路誤動作 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥1Hz | 瞬態(tài)故障無法捕捉 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過溫/過流保護 | 雙回路冗余 | 設(shè)備損壞或人員傷害 |
致XX公司：
我方需采購電腦電源老化柜，要求如下：
1. 溫度范圍：50-120℃，均勻性≤2℃
2. 負載能力：0-1000W可調(diào)，精度±0.5%
3. 控制方式：PLC+觸摸屏，支持USB數(shù)據(jù)導出
4. 安全功能：過溫報警、急停按鈕、門禁聯(lián)鎖
請于3個工作日內(nèi)提供技術(shù)方案及報價。
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動＞±3℃ | 加熱管老化、PID參數(shù)失調(diào) | 更換加熱元件、重新整定PID |
| 負載輸出不穩(wěn)定 | 功率模塊散熱不良、采樣線松動 | 清理散熱風道、緊固接線端子 |
| 數(shù)據(jù)記錄中斷 | 存儲卡故障、通信接口氧化 | 格式化存儲卡、清潔接口觸點 |
| 項目 | 周期 | 標準 |
|---|---|---|
| 溫度校準 | 每6個月 | 使用標準鉑電阻，誤差≤±0.5℃ |
| 負載模塊檢測 | 每12個月 | 使用FLUKE 8846A，精度驗證 |
| 安全聯(lián)鎖測試 | 每季度 | 模擬過溫/過流，確認3秒內(nèi)切斷電源 |
| 廠商 | 溫度范圍 | 負載精度 | 標準 | 附加功能 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|
| 艾德克斯ITECH | 50-150℃ | ±0.3%FS | IEC 60068 | 遠程監(jiān)控 | 18-25萬 |
| 致茂Chroma | 40-130℃ | ±0.5%FS | GB/T 2423 | 數(shù)據(jù)追溯 | 22-30萬 |
| 固緯GWINSTEK | 30-120℃ | ±1%FS | MIL-STD-810 | 多通道并行 | 15-20萬 |
在空載狀態(tài)下，將9個溫度傳感器均勻布置于腔體內(nèi)（上3中3下3），運行至設(shè)定溫度后穩(wěn)定30分鐘，記錄各點數(shù)據(jù)。根據(jù)IEC 60068-2-78標準，最大溫差應(yīng)≤3℃。
電子負載支持動態(tài)調(diào)節(jié)（如模擬開機沖擊電流），適合研發(fā)階段；電阻負載成本低，適合量產(chǎn)線。若測試需覆蓋瞬態(tài)響應(yīng)，優(yōu)先選電子負載。
低價設(shè)備可能采用PID控制（響應(yīng)慢）、單點測溫（均勻性差）、無安全聯(lián)鎖；高價設(shè)備通常配備自適應(yīng)控制算法、分布式測溫系統(tǒng)、雙回路保護電路。
若電源用于高濕環(huán)境（如南方梅雨季），需選擇溫濕度復合老化柜（濕度范圍20%-95%RH）。常規(guī)測試僅需控溫，濕度控制非必需。
要求提供近3年同類客戶案例（如服務(wù)器電源廠商）、CNAS實驗室認可證書、設(shè)備故障率數(shù)據(jù)（如MTBF≥5000小時）。
引用機構(gòu)：中國電器科學研究院（環(huán)境適應(yīng)性研究欄目）、IEC國際電工委員會（環(huán)境試驗標準組）
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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