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隆安
2025-12-29 08:42:58
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
從化恒溫低濕試驗(yàn)箱批發(fā)市場(chǎng)是華南地區(qū)重要的環(huán)境測(cè)試設(shè)備集散地，用戶需重點(diǎn)關(guān)注設(shè)備溫度/濕度控制精度、負(fù)載能力、安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)及標(biāo)準(zhǔn)符合性。選型時(shí)應(yīng)結(jié)合測(cè)試需求明確參數(shù)邊界，優(yōu)先選擇通過ISO 17025認(rèn)證的廠商，采購流程需包含F(xiàn)AT/SAT驗(yàn)收環(huán)節(jié)以規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
| 核心參數(shù) | 推薦范圍 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+150℃ |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH |
| 控制精度 | ±0.5℃/±2%RH |
| 標(biāo)準(zhǔn)符合 | IEC 60068-2-78/GB/T 2423 |
| 關(guān)鍵部件 | 進(jìn)口PID控制器、不銹鋼內(nèi)膽 |
恒溫低濕試驗(yàn)箱主要用于電子元器件（如IC芯片）、軍工產(chǎn)品、醫(yī)藥包裝的低溫低濕環(huán)境模擬。典型失效模式包括：
| 參數(shù) | 定義 | 選型建議 |
|---|---|---|
| 負(fù)載能力 | 單次測(cè)試最大試樣質(zhì)量 | ≥測(cè)試物總質(zhì)量1.2倍 |
| 試樣尺寸 | 工作室有效空間 | 長(zhǎng)寬高需大于試樣尺寸20% |
| 控制方式 | 伺服/液壓/PID | 優(yōu)先選擇進(jìn)口PID控制器 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | ≥1次/秒（軍工產(chǎn)品需≥5次/秒） |
根據(jù)中國(guó)電器科學(xué)研究院2025年檢測(cè)報(bào)告，符合以下標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備可靠性提升40%：
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| TH-80A | -40℃~+150℃ | 20%~98%RH | 80 | ±1℃/±3%RH | GB/T 2423 | RS485接口 |
| TH-225B | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 225 | ±0.5℃/±2%RH | IEC 60068 | 獨(dú)立超溫保護(hù) |
| TH-500C | -60℃~+150℃ | 15%~95%RH | 500 | ±0.8℃/±2.5%RH | MIL-STD-810G | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| 故障類型 | 原因分析 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動(dòng)大 | 制冷劑泄漏/PID參數(shù)失調(diào) | 補(bǔ)充R404A制冷劑/重新整定PID |
| 濕度無法降低 | 除濕機(jī)故障/風(fēng)道堵塞 | 更換除濕模塊/清潔進(jìn)風(fēng)口 |
| 報(bào)警代碼E03 | 過載保護(hù)觸發(fā) | 減少試樣質(zhì)量/檢查風(fēng)機(jī)軸承 |
A：按公式計(jì)算：V ≥ (L×W×H×1.2)/1000，其中LWH為試樣最大尺寸（mm），1.2為安全系數(shù)。例如測(cè)試200×150×100mm的電路板，需容積≥72L。
A：可兼容，但需確認(rèn)制冷系統(tǒng)功率。-70℃設(shè)備通?？筛采w+150℃高溫，但+85℃設(shè)備無法實(shí)現(xiàn)-40℃低溫。
A：根據(jù)JJF 1101-2019，正常使用設(shè)備每年校準(zhǔn)1次；關(guān)鍵領(lǐng)域（如軍工）建議每半年校準(zhǔn)。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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