新吳區(qū)特殊試驗(yàn)箱貨源充足,新吳區(qū)試驗(yàn)箱供應(yīng)憂

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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

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快速答案卡片

參數(shù)匹配：

標(biāo)準(zhǔn)對(duì)齊：確認(rèn)設(shè)備符合IEC 60068-2-1（高溫試驗(yàn)）或MIL-STD-810G（軍用標(biāo)準(zhǔn)）。
供應(yīng)商評(píng)估：要求提供FAT（工廠驗(yàn)收測(cè)試）報(bào)告及計(jì)量證書（如CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室出具）。

應(yīng)用場(chǎng)景：電子元器件（如電容、IC）長(zhǎng)期可靠性驗(yàn)證，模擬85℃/85%RH濕熱環(huán)境。

關(guān)鍵參數(shù)：

失效機(jī)理：高溫導(dǎo)致焊點(diǎn)蠕變、絕緣材料降解，需通過Arrhenius模型加速壽命試驗(yàn)。

應(yīng)用場(chǎng)景：航空電子設(shè)備（如機(jī)載計(jì)算機(jī)）的熱沖擊測(cè)試，溫度變化速率≥15℃/min。

關(guān)鍵參數(shù)：

設(shè)備橫評(píng)表

型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	容積（L）	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
HT-300A	室溫~300℃	無	300	±1℃	GB/T 2423.2	獨(dú)立風(fēng)道設(shè)計(jì)
TH-800	-40℃~150℃	20%~98%RH	800	±0.5℃	IEC 60068-2-78	遠(yuǎn)程監(jiān)控接口
RST-1200	-70℃~180℃	10%~95%RH	1200	±2℃	MIL-STD-810G	爆炸防護(hù)門

參數(shù)虛標(biāo)：部分廠商標(biāo)注“±0.5℃”實(shí)際僅空載達(dá)標(biāo)，要求提供負(fù)載測(cè)試報(bào)告。
服務(wù)缺失：避免選擇無本地維保團(tuán)隊(duì)的供應(yīng)商，新吳區(qū)推薦廠商需具備48小時(shí)響應(yīng)能力。
標(biāo)準(zhǔn)混淆：確認(rèn)設(shè)備符合“試驗(yàn)箱”標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 10592）而非“培養(yǎng)箱”標(biāo)準(zhǔn)。

需求確認(rèn)：填寫《試驗(yàn)需求表》（含試樣尺寸、溫度曲線、循環(huán)次數(shù)）。
技術(shù)協(xié)議：明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如空載/負(fù)載溫升曲線、均勻性測(cè)試點(diǎn)數(shù)）。
報(bào)價(jià)對(duì)比：要求分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備費(fèi)、運(yùn)輸費(fèi)、安裝調(diào)試費(fèi)）。
FAT/SAT驗(yàn)收：
- FAT：在廠商工廠測(cè)試設(shè)備基本功能。
- SAT：在用戶現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試實(shí)際工況兼容性。
計(jì)量校準(zhǔn)：每年一次由第三方機(jī)構(gòu)（如SGS）出具校準(zhǔn)證書。