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隆安
2025-12-04 08:50:49
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
戶外儲(chǔ)電箱高溫老化測(cè)試需遵循IEC 63287-2:2025（最新版）及GB/T 38375-2025標(biāo)準(zhǔn)，核心參數(shù)包括溫度范圍（70℃~120℃）、濕度控制（≤85%RH）、負(fù)載波動(dòng)（±5%額定功率）。選型時(shí)需重點(diǎn)驗(yàn)證設(shè)備精度（±1℃）、安全聯(lián)鎖功能及標(biāo)準(zhǔn)符合性，避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護(hù)缺失導(dǎo)致測(cè)試失效。
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | IEC 63287-2:2025（國(guó)際） / GB/T 38375-2025（中國(guó)） |
|---|---|
| 關(guān)鍵參數(shù) | 溫度范圍70~120℃ | 濕度≤85%RH | 負(fù)載波動(dòng)±5% |
| 選型重點(diǎn) | 控制精度±1℃ | 安全聯(lián)鎖 | 第三方計(jì)量報(bào)告 |
| 避坑指南 | 拒絕無(wú)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 | 核查校準(zhǔn)記錄 | 實(shí)地考察測(cè)試案例 |
根據(jù)IEC 63287-2:2025及GB/T 38375-2025標(biāo)準(zhǔn)，戶外儲(chǔ)電箱高溫老化測(cè)試需滿足以下技術(shù)邊界：
| 參數(shù) | 典型值 | 測(cè)試目的 | 失效機(jī)理 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 70℃~120℃ | 模擬極端高溫環(huán)境 | 電池?zé)崾Э亍⒚芊饧匣?/td> |
| 濕度控制 | ≤85%RH | 防止冷凝腐蝕 | 金屬氧化、絕緣性能下降 |
| 負(fù)載波動(dòng) | ±5%額定功率 | 模擬實(shí)際工況 | BMS（電池管理系統(tǒng)）誤動(dòng)作 |
| 控制精度 | ±1℃ | 確保測(cè)試可重復(fù)性 | 溫度梯度導(dǎo)致局部過(guò)熱 |
| 采樣率 | ≥1Hz | 捕捉瞬態(tài)變化 | 熱沖擊導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)形變 |
安全聯(lián)鎖要求：設(shè)備需具備超溫自動(dòng)斷電、緊急停機(jī)按鈕、門禁互鎖功能，符合IEC 61010-1:2025安全規(guī)范。
"請(qǐng)?zhí)峁┗贗EC 63287-2:2025標(biāo)準(zhǔn)的XX升老化箱報(bào)價(jià)，包含精度校準(zhǔn)記錄、安全聯(lián)鎖功能說(shuō)明及3年維保方案。"
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn)符合性 | 附加特性 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Espec（日本） | 70~150℃ | 20%~98%RH | ±0.5℃ | IEC/GB雙認(rèn)證 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | ￥85萬(wàn)~120萬(wàn) |
| CSZ（美國(guó)） | 60~130℃ | 10%~85%RH | ±1℃ | IEC認(rèn)證 | 數(shù)據(jù)追溯 | ￥70萬(wàn)~95萬(wàn) |
| 重慶四達(dá)（中國(guó)） | 50~120℃ | 30%~80%RH | ±1.5℃ | GB認(rèn)證 | 國(guó)產(chǎn)定制 | ￥45萬(wàn)~65萬(wàn) |
常見(jiàn)故障：
維護(hù)清單：
| 項(xiàng)目 | 周期 | 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù) |
|---|---|---|
| 溫度校準(zhǔn) | 每6個(gè)月 | JJF 1101-2019 |
| 濕度傳感器清洗 | 每3個(gè)月 | GB/T 5170.2-2016 |
| 安全聯(lián)鎖測(cè)試 | 每月 | IEC 61010-1:2025 |
Q1：如何判斷設(shè)備是否符合最新標(biāo)準(zhǔn)？
A：要求廠商提供標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)（如IEC 63287-2:2025）及第三方檢測(cè)報(bào)告，拒絕僅標(biāo)注“符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”的模糊表述。
Q2：溫度控制精度±1℃和±2℃有何區(qū)別？
A：±1℃設(shè)備可減少測(cè)試變量，提高結(jié)果可重復(fù)性，尤其適用于高價(jià)值儲(chǔ)電箱的研發(fā)階段。
Q3：二手設(shè)備能否用于正式測(cè)試？
A：不可行。二手設(shè)備可能存在傳感器老化、安全聯(lián)鎖失效等問(wèn)題，且無(wú)法提供完整的校準(zhǔn)記錄。
Q4：測(cè)試箱容積如何選擇？
A：容積需≥儲(chǔ)電箱體積的1.5倍，預(yù)留空間確保溫度均勻性。
Q5：進(jìn)口設(shè)備與國(guó)產(chǎn)設(shè)備如何權(quán)衡？
A：若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格（如出口認(rèn)證），優(yōu)先選擇進(jìn)口設(shè)備；若僅滿足國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，國(guó)產(chǎn)設(shè)備性價(jià)比更高。
IEC國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）標(biāo)準(zhǔn)庫(kù) / 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)（SAC）GB標(biāo)準(zhǔn)專欄
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