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隆安
2025-11-24 08:43:52
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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高低溫試驗箱拓達譜作為環(huán)境模擬測試核心設備，廣泛應用于電子、汽車、軍工等領域，其選型需嚴格匹配溫度范圍、控制精度及負載能力。用戶需通過技術協(xié)議明確參數(shù)邊界，結合FAT/SAT驗收流程規(guī)避質量風險，避免因設備性能不足導致測試數(shù)據(jù)失效。
高低溫試驗箱拓達譜主要用于模擬極端溫度環(huán)境，驗證產(chǎn)品在高溫老化（如電子元件焊點氧化）、低溫脆化（如塑料部件收縮）下的可靠性。典型失效案例包括：
| 參數(shù) | 定義 | 典型值（拓達譜） | 選型優(yōu)先級 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 最低溫~最高溫 | -70℃~+180℃ | ★★★★★ |
| 溫度均勻度 | 工作室內(nèi)各點溫差 | ≤2℃ | ★★★★ |
| 升溫速率 | 室溫至最高溫時間 | 3℃/min（可調(diào)） | ★★★ |
| 負載容量 | 最大可放置試樣質量 | 50kg/100kg/200kg | ★★★★ |
| 控制方式 | 伺服PID/液壓調(diào)節(jié) | 伺服PID | ★★★ |
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積（L） | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 拓達譜TD-70 | -70℃~+150℃ | 20%~98%RH | 750 | ± ℃ | GB/T 2423、MIL-STD-810 | 遠程監(jiān)控+數(shù)據(jù)追溯 |
| 拓達譜TD-120 | -40℃~+180℃ | 10%~95%RH | 1200 | ±1℃ | IEC 60068、AEC-Q100 | 應急停機+過載保護 |
| 競品A-100 | -60℃~+120℃ | 無濕度控制 | 1000 | ±2℃ | 僅企業(yè)標準 | 基礎報警功能 |
Q1：設備報“超溫故障”如何處理？
A：立即停機并檢查：1）加熱管是否短路；2）溫度傳感器是否偏移（用標準源校驗）；3）通風口是否堵塞。拓達譜設備內(nèi)置故障代碼表，可參考手冊第5章排查。
Q2：溫度波動大是否屬于質量問題？
A：根據(jù)GB/T ，工作區(qū)任意兩點溫差應≤2℃。若超過此值，需檢查：1）循環(huán)風機轉速；2）保溫層厚度；3）傳感器安裝位置。拓達譜設備出廠前需通過48小時穩(wěn)定性測試。
Q3：如何選擇濕度控制功能？
A：若測試需模擬濕熱環(huán)境（如GB/T ），需選擇帶濕度控制的型號（如拓達譜TD-70）。僅需干燥環(huán)境測試時，可省去此功能以降低成本。
因老化試驗設備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術方案
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