中山tc老化試驗(yàn)箱價(jià)格-中山PTC老化箱價(jià)格全覽

隆安
2025-11-10 14:01:21
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內(nèi)容摘要：導(dǎo)讀中山PTC老化試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度及附加功能影響，均價(jià)區(qū)間為8萬(wàn)–35萬(wàn)元。選型需結(jié)合負(fù)載類(lèi)型、試樣尺寸及標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性，優(yōu)先選擇通過(guò)ISO 9001認(rèn)證...

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導(dǎo)讀

中山PTC老化試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度及附加功能影響，均價(jià)區(qū)間為8萬(wàn)–35萬(wàn)元。選型需結(jié)合負(fù)載類(lèi)型、試樣尺寸及標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性，優(yōu)先選擇通過(guò)ISO 9001認(rèn)證、提供FAT/SAT驗(yàn)收的廠商。避免低價(jià)陷阱，重點(diǎn)關(guān)注安全聯(lián)鎖與計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)。

快速答案卡片

項(xiàng)目	答案
中山PTC均價(jià)	8萬(wàn)–35萬(wàn)元（基礎(chǔ)型–高精度型）
核心參數(shù)	溫度范圍：-70℃~+300℃；控制精度±1℃；分辨率 ℃
推薦廠商標(biāo)準(zhǔn)	ISO 9001認(rèn)證、提供FAT/SAT報(bào)告、支持第三方計(jì)量
避坑要點(diǎn)	拒絕無(wú)安全聯(lián)鎖設(shè)備、警惕“低價(jià)全包”陷阱、要求原廠維保合同

技術(shù)核心與選型邏輯

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理

PTC老化試驗(yàn)箱用于模擬高溫環(huán)境，加速電子元件（如PTC熱敏電阻、功率模塊）的失效過(guò)程，驗(yàn)證其壽命、熱穩(wěn)定性及參數(shù)漂移。典型失效模式包括：

熱擊穿：長(zhǎng)期高溫導(dǎo)致介質(zhì)擊穿（如電容絕緣層）。
氧化腐蝕：金屬觸點(diǎn)氧化引發(fā)接觸電阻升高。
材料蠕變：塑料外殼變形導(dǎo)致密封失效。

2. 關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)

參數(shù)	技術(shù)要求	適用標(biāo)準(zhǔn)
溫度范圍	-70℃~+300℃（常規(guī)型：-20℃~+150℃）	GB/T （高溫試驗(yàn)）
控制精度	±1℃（高精度型± ℃）	IEC 60068-2-2
分辨率	℃
采樣率	1次/秒
安全聯(lián)鎖	過(guò)溫保護(hù)、門(mén)鎖互鎖、漏電保護(hù)	GB

3. 選型決策流程

明確需求：
- 試樣尺寸（如100mm×100mm PCB板需≥ 3容積）。
- 負(fù)載類(lèi)型（功率器件需考慮散熱設(shè)計(jì)）。
參數(shù)匹配：
- 溫度均勻性≤2℃（通過(guò)風(fēng)道設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)）。
- 升溫速率≥3℃/min（伺服控制優(yōu)于PID控制）。
標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)：
- 軍工/汽車(chē)電子需符合MIL-STD-810G或AEC-Q100。

4. 詢(xún)價(jià)模板

選型對(duì)比表

廠商/型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	容積選項(xiàng)	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性	價(jià)格區(qū)間
中山A型-150L	RT~+150℃	不支持	3	± ℃	GB/T	獨(dú)立風(fēng)道	8萬(wàn)–12萬(wàn)
中山B型-500L	-20℃~+180℃	20%~95%RH	3	±1℃	IEC 60068-2-2	遠(yuǎn)程監(jiān)控+數(shù)據(jù)追溯	18萬(wàn)–25萬(wàn)
中山C型-1000L	-70℃~+300℃	10%~98%RH	1m3	± ℃	MIL-STD-810G	爆炸防護(hù)+多段編程	30萬(wàn)–35萬(wàn)

采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist

需求確認(rèn)：
- 試樣最大尺寸、溫度曲線(xiàn)需求（如階梯升溫）。
技術(shù)協(xié)議：
- 明確控制方式（伺服/PID）、安全聯(lián)鎖條款。
報(bào)價(jià)對(duì)比：
- 核查含稅價(jià)、運(yùn)費(fèi)、安裝調(diào)試費(fèi)。
FAT/SAT驗(yàn)收：
- FAT（工廠驗(yàn)收）：溫度均勻性測(cè)試（9點(diǎn)法）、過(guò)載保護(hù)測(cè)試。
- SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：聯(lián)鎖功能驗(yàn)證、計(jì)量證書(shū)核查。
計(jì)量校準(zhǔn)：
- 每年一次第三方校準(zhǔn)（如華南計(jì)量院），保存報(bào)告。