掃描電鏡

在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展

ABOUT US

關(guān)于我們

MORE+

微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。致力于向客戶提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···

安全可靠
放心品質(zhì)
操作簡(jiǎn)單
省時(shí)節(jié)能

客戶案例

專業(yè)從事電子顯微鏡及電鏡附件的廠家，堅(jiān)持客戶至上，誠信服務(wù)，攜手共贏

新聞中心

NEWS

2025-12-19

SEM掃描電鏡的3個(gè)優(yōu)勢(shì)介紹

在材料表征與微觀結(jié)構(gòu)分析領(lǐng)域，掃描電鏡憑借其獨(dú)特的技術(shù)特性成為科研與工業(yè)檢測(cè)的核心工具。本文聚焦其三大核心優(yōu)勢(shì)，為相關(guān)領(lǐng)域研究者提供技術(shù)選型參考。...

2025-12-18

SEM掃描電鏡拍樣品的5個(gè)關(guān)鍵步驟介紹

在材料科學(xué)與納米技術(shù)領(lǐng)域，掃描電鏡憑借其高分辨率成像能力成為樣品表征的核心工具。正確掌握其拍攝樣品的操作步驟，不僅能提升圖像質(zhì)量，更能確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。以下從實(shí)際操作角度出發(fā)，總結(jié)SEM掃描電鏡拍攝樣品的5個(gè)關(guān)鍵步驟。...

2025-12-17

SEM掃描電鏡簡(jiǎn)單制樣方法分享

在納米材料表征領(lǐng)域，掃描電鏡因其高分辨率、大景深和三維成像能力成為關(guān)鍵工具，而樣品的制備質(zhì)量直接影響成像效果。本文聚焦“簡(jiǎn)單制樣”核心需求，總結(jié)無需復(fù)雜設(shè)備或?qū)I(yè)實(shí)驗(yàn)室條件的方法，適用于科研新手、快速驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)及現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)場(chǎng)景。...

2025-12-16

SEM掃描電鏡背散射電子成像模式的適用行業(yè)介紹

在微觀表征技術(shù)領(lǐng)域，掃描電鏡的背散射電子（BSE）成像模式憑借其獨(dú)特的原子序數(shù)對(duì)比度與高分辨率成像能力，成為多行業(yè)不可或缺的分析工具。該模式通過檢測(cè)高能電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的背散射電子信號(hào)，實(shí)現(xiàn)成分分布與表面形貌的同步表征，分辨率可達(dá)3.5-4.0nm，且成像深度大于二次電子模式，在材料科學(xué)、地質(zhì)勘探、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域展現(xiàn)出不可替代的應(yīng)用價(jià)值。...

2025-12-15

SEM掃描電鏡不同觀察方式的適用行業(yè)

掃描電鏡憑借其高分辨率成像與多維度分析能力，在科研與工業(yè)領(lǐng)域占據(jù)核心地位。不同觀察方式的選擇需結(jié)合樣品特性與檢測(cè)目標(biāo)。...

2025-12-12

SEM掃描電鏡的3大應(yīng)用場(chǎng)景

掃描電鏡憑借其高分辨率、大景深及立體成像能力，成為多學(xué)科研究的關(guān)鍵表征工具。本文聚焦其三大創(chuàng)新應(yīng)用場(chǎng)景，展現(xiàn)這一技術(shù)在科學(xué)探索與工業(yè)實(shí)踐中的獨(dú)特價(jià)值。...

2025-12-11

國產(chǎn)SEM掃描電鏡的3個(gè)優(yōu)勢(shì)介紹

在材料表征與微觀分析領(lǐng)域，掃描電鏡作為核心工具，其技術(shù)演進(jìn)始終牽引著科研與工業(yè)檢測(cè)的革新方向。國產(chǎn)SEM掃描電鏡憑借自主創(chuàng)新的技術(shù)路徑，在分辨率、適應(yīng)性、服務(wù)生態(tài)三大維度形成差異化優(yōu)勢(shì)，正逐步打破進(jìn)口設(shè)備壟斷格局。本文聚焦國產(chǎn)掃描電鏡的三大核心優(yōu)勢(shì)，解析其在納米材料研發(fā)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等場(chǎng)景中的獨(dú)特價(jià)值。...

2025-12-10

SEM掃描電鏡的3個(gè)操作技巧分享

掃描電鏡作為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究的重要工具，能夠通過電子束掃描樣品表面獲取高分辨率形貌圖像及成分信息。其操作技巧的掌握直接影響成像質(zhì)量與數(shù)據(jù)分析的準(zhǔn)確性。本文聚焦三個(gè)關(guān)鍵操作維度，結(jié)合實(shí)際科研經(jīng)驗(yàn)提煉實(shí)用技巧，助力科研工作者高效開展微觀表征工作。...

2025-12-09

SEM掃描電鏡能觀察到芯片的那些細(xì)節(jié)

在半導(dǎo)體芯片研發(fā)與制造過程中，掃描電鏡作為納米尺度表征的核心工具，以其微米至納米級(jí)的高分辨率成像能力，成為揭示芯片微觀世界的關(guān)鍵"眼睛"。通過聚焦高能電子束轟擊樣品表面，SEM掃描電鏡捕捉二次電子、背散射電子等信號(hào)，可直觀呈現(xiàn)芯片表面及近表面的三維形貌、成分分布及晶體結(jié)構(gòu)信息，為工藝優(yōu)化與缺陷分析提供不可替代的視覺證據(jù)。...

2025-12-08

SEM掃描電鏡和透射電鏡的區(qū)別

在納米尺度表征領(lǐng)域，掃描電鏡與透射電鏡作為兩大核心工具，因成像原理、分辨率及適用場(chǎng)景的顯著差異，在科研與工業(yè)中扮演著不可替代的角色。以下從五大維度系統(tǒng)解析二者的本質(zhì)區(qū)別。...

2025-12-05

SEM掃描電鏡可以測(cè)的樣品類型有那些

掃描電鏡作為微觀形貌觀測(cè)的核心工具，憑借其高分辨率、立體成像及多模式分析能力，廣泛應(yīng)用于材料研發(fā)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域。其工作原理是通過聚焦電子束掃描樣品表面，激發(fā)二次電子、背散射電子等信號(hào)，經(jīng)探測(cè)器接收后形成三維立體圖像，可直觀反映樣品表面納米級(jí)形貌與成分分布。以下從多維度系統(tǒng)梳理SEM掃描電鏡可測(cè)的樣品類型及典型應(yīng)用場(chǎng)景：...

2025-12-04

SEM掃描電鏡制樣時(shí)有那些細(xì)節(jié)需要注意的

在納米材料、生物組織、地質(zhì)礦物等領(lǐng)域的微觀表征中，掃描電鏡憑借其高景深、高分辨率的特性成為核心工具。然而，高質(zhì)量成像的前提是規(guī)范的制樣流程——從樣品準(zhǔn)備到真空加載，每一步細(xì)節(jié)都可能影響Z終成像質(zhì)量。...

2025-12-03

SEM掃描電鏡的2個(gè)核心應(yīng)用介紹

作為納米尺度表征的關(guān)鍵工具，掃描電鏡憑借其高分辨率成像與多維度分析能力，在科研與工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出不可替代的價(jià)值。本文聚焦其兩大核心應(yīng)用場(chǎng)景，揭示這一技術(shù)如何推動(dòng)前沿領(lǐng)域的突破性進(jìn)展。...

2025-12-02

SEM掃描電鏡能分析那些成分

掃描電鏡憑借納米級(jí)分辨率與多維信號(hào)分析能力，成為材料成分解析的核心工具。以下從基礎(chǔ)形貌-成分關(guān)聯(lián)分析、元素定量解析、晶體結(jié)構(gòu)識(shí)別、特殊環(huán)境應(yīng)用四大維度展開，揭示其成分分析的深層邏輯與典型場(chǎng)景。...

2025-12-01

SEM掃描電鏡操作指南分享

掃描電鏡作為納米至微米級(jí)微觀形貌觀測(cè)的核心工具，在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域扮演著不可或缺的角色。其高分辨率成像能力與三維形貌重構(gòu)功能，使科研人員能夠深入洞察樣品表面結(jié)構(gòu)特征。本文將系統(tǒng)梳理SEM掃描電鏡操作全流程，從基礎(chǔ)準(zhǔn)備到高J應(yīng)用技巧，助力用戶高X掌握這一J密儀器的使用要領(lǐng)。...

2025-11-28

SEM掃描電鏡能觀察固體樣品嗎？

在檢驗(yàn)科、材料研發(fā)與工業(yè)質(zhì)檢領(lǐng)域，掃描電鏡作為高分辨率成像工具，其是否適合觀察固體樣品常被提問。從技術(shù)特性到實(shí)際應(yīng)用，SEM掃描電鏡在固體樣品分析中展現(xiàn)出不可替代的價(jià)值，但也需結(jié)合其原理與場(chǎng)景理性評(píng)估。...

2025-11-27

掃描電鏡拍攝的樣品圖片為什么沒有顏色

在科研與工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域，掃描電鏡（全稱掃描電子顯微鏡）憑借其納米級(jí)分辨率與三維形貌成像能力，成為探索微觀世界的核心工具。然而，許多初次接觸掃描電鏡的科研人員或企業(yè)用戶常會(huì)困惑：為什么掃描電鏡拍攝的樣品圖片總是黑白的？本文從技術(shù)原理、信號(hào)特性、應(yīng)用場(chǎng)景三個(gè)維度，揭開這一現(xiàn)象背后的科學(xué)邏輯。...

2025-11-26

如何使用SEM掃描電鏡進(jìn)行樣品分析

在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)勘探等領(lǐng)域，掃描電鏡作為納米尺度成像的核心工具，憑借其高分辨率、大景深與立體成像優(yōu)勢(shì)，成為樣品形貌觀測(cè)、成分分析的關(guān)鍵手段。本文將系統(tǒng)解析SEM掃描電鏡的操作流程與實(shí)用技巧，助力科研工作者高效開展樣品分析工作。...

2025-11-25